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  • 美 蔡润波 正版 可测性设计与测试优化技术 新华书店旗舰店文轩官网 布兰登·戴 书籍 基于TSV 三维堆叠集成电路
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  • Optimization and Techniques TSV based 4周达 Stacked Design Test 9783319023779 for ICs
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  • 9780323996020 Resistivity Interposer TSV Integration High 4周达 Technology
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  • Via 三维集成 Chiplet异构集成 机工社 三维集成硅通孔技术 半导体封装 Through Silicon 后摩尔时代 TSV 硅通孔技术
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  • 可测性设计与测试优化技术 9787111753643 三维堆叠集成电路 蔡润波著 美 基于TSV 布兰登·戴
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  • 9787111753643 美 机械工业出版 社 蔡润波著 三维堆叠集成电路 可测设计与测试优化技术 布兰登·戴 基于TSV 官方正版
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  • 原书第2版 9787111696551 :从架构到应用 TSV键合互连焊料散热 英特尔高级工程师2021新作封装 三维微电子封装 工艺全书
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  • 正版 新华书店旗舰店 工艺全书 三维微电子封装 从架构到应用 TSV键合互连焊料散热 美 李琰 原书第2版 封装 迪帕克·戈亚尔著
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  • 技术与应用 马盛林 科学出版 TSV三维集成理论 9787030618368 金玉丰 社 正版 现货
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  • 技术与应用 马盛林 科学出版 TSV三维集成理论 9787030618368 金玉丰 社 正版 现货
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  • 技术与应用 马盛林 科学出版 TSV三维集成理论 9787030618368 金玉丰 社 正版 现货
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  • 社 三维微电子封装 :从架构到应用 TSV键合互连焊料散热 原书第2版 机械工业出版 工艺全书 英特尔高级工程师2021新作封装
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  • 基于TSV Chakrab 机工 Krishnendu Brandon 美]布兰登·戴 美]蔡润波 三维堆叠集成电路 Noia 可测性设计与测试优化技术
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