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高温反偏试验方法 CASAS SiC 043 MOSFET 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 2024
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功率器件开关动态测试方法 CASAS SiC 033 MOSFET 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 2024
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栅极电荷测试方法 CASAS SiC 037 MOSFET 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 2024
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动态栅偏试验方法 CASAS SiC 045 MOSFET 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 2024
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2022 SiC复合粉体 抗氧化超高温涂层用ZrB2 2683
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第1部分:偏置温度不稳性标准 可靠性试验方法 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 半导体器件 MOSFET 48164.1 SiC 2026
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第2部分:体二极管工作引起 可靠性试验方法 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 半导体器件 MOSFET 48164.2 SiC 2026
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第2部分:体二极管工作引起双 可靠性试验方法 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 半导体器件 MOSFET 48164.2 SiC 2026
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第1部分:偏置温度不稳定性试 可靠性试验方法 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 半导体器件 MOSFET 48164.1 SiC 2026
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第1部分:偏置温度不稳性标准 可靠性试验方法 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 半导体器件 MOSFET 48164.1 SiC 2026
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