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  • 2009硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 T1553 图书 纸版
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  • 图书 电压法 纸版 2009硅外延层载流子浓度测定汞探针电容 T14146
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  • 图书 电压法 纸版 2009硅外延层载流子浓度测定汞探针电容 T14146
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  • 1553 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 2009
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  • 2013 方法 测定硅外延层中净载流子浓度 14863
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  • 2009 光电导衰减法 硅和锗体内少数载流子寿命测定 1553
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  • 电压法 测试 14146 电容 硅外延层载流子浓度 2021
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    36705 是图书 拉曼光谱法 2018氮化镓衬底片载流子浓度 测试
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  • 26068 非接触微波反射光电导衰减法 测试 2018 硅片和硅锭载流子复合寿命
    26068 非接触微波反射光电导衰减法 测试 2018 硅片和硅锭载流子复合寿命
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  • 2013 方法 测定硅外延层中净载流子浓度 14863
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    1553 光电导衰减法 测定 2023 硅和锗体内少数载流子寿命
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    2023硅和锗体内少数载流子寿命 光电导衰减法 测定 1553
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